局部放電檢測(cè)儀試驗(yàn)過程中干擾的分類

  由種種原因引起的干擾將嚴(yán)重地影響局部放電檢測(cè)儀局部放電試驗(yàn)。假使這些干擾是連續(xù)的而且其幅值是基本相同的(背景噪聲)，它們將會(huì)降低檢測(cè)儀的有效靈敏度，即最小可見放電量比所用試驗(yàn)線路的理論最小值要大。這種形式的干擾會(huì)隨電壓而增大，因而靈敏度是按比例下降的。在其他的一些情況中，隨電壓的升高而在試驗(yàn)線路中出現(xiàn)的放電，可以認(rèn)為是發(fā)生在試驗(yàn)樣品的內(nèi)部。

  因此，重要的是將干擾降低到最小值，以及使用帶有放電實(shí)際波形顯示的局部放電檢測(cè)儀，以最大的可能從試樣的干擾放電中鑒別出假的干擾放電響應(yīng)。根據(jù)測(cè)量試驗(yàn)回路中可能的干擾源位置可將干擾源分為兩類：第一類與外施高壓大小無關(guān)的干擾，第二類是僅在高壓加于回路時(shí)才產(chǎn)生的干擾。

  局放干擾的分類

  干擾的主要形式如下：

  (1)來自電源的干擾，這類干擾只要控制、調(diào)壓器與變壓器等是接通的(不必升壓即可能影響測(cè)量;

  (2)來自接地系統(tǒng)的干擾，通常指接地連接不好或多重接地時(shí)，不同接地點(diǎn)的電位：差在局部放電檢測(cè)儀器上造成的干擾偏轉(zhuǎn);

  (3)從別的高壓試驗(yàn)或者電磁輻射檢測(cè)到的干擾，它是由回路外部的電磁場對(duì)回路的電磁耦合引起的包括電臺(tái)的射頻干擾，鄰近的高壓設(shè)備，日光燈、電焊、電弧或火花放電的干擾;

  (4)試驗(yàn)線路的放電;

  (5)由于試驗(yàn)線路或樣品內(nèi)的接觸不良引起的接觸噪聲。